XUL 210/220

fischer - scope x射线XUL/XULM 是高性能,紧凑和普遍适用的x射线测量仪器。它们非常适合于无损涂层厚度测量和材料分析。该仪器非常适合于质量保证、来料检验和过程控制的测量。 XUL 210/220典型应用领域 ●测量小部件,如螺丝、螺栓和螺母 ●触点和电子元件的测量 ●测定电镀液的成分 通过使用比例计数管实现高计数率,从而可以进行精确测量。出色的精度和长期稳定性是所有FISCHERSCOPE x射线系统的特点。重新校准的必要性大大减少,节省了时间和精力。......

产品描述

fischer - scope x射线XUL/XULM是高性能,紧凑和普遍适用的x射线测量仪器。它们非常适合于无损涂层厚度测量和材料分析。该仪器非常适合于质量保证、来料检验和过程控制的测量。
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210/220
 

XUL 210/220典型应用领域

●测量小部件,如螺丝、螺栓和螺母
●触点和电子元件的测量
●测定电镀液的成分
通过使用比例计数管实现高计数率,从而可以进行精确测量。出色的精度和长期稳定性是所有FISCHERSCOPE x射线系统的特点。重新校准的必要性大大减少,节省了时间和精力。
FISCHER的基本参数方法允许分析固体和液体样品以及无需校准的涂层系统。
FISCHERSCOPE x射线XUL/XULM仪器被设计为用户友好的台式仪器。根据预期用途,不同的版本提供不同的支撑阶段:
●XUL 210:固定样本支撑
●XUL 220和XULM 240:手动操作的XY台精确定位的小零件
为了快速方便地定位样品,x射线源和检测器组件位于仪器的下腔中。测量方向从样品下方开始,样品由透明窗口支撑。尽管这些仪器体积小巧,但它们配备了一个大的测量室。这样就可以对较大的标本进行测量。
测量的整个操作和评估以及测量数据的清晰呈现是在PC上实行的,使用功能强大且用户友好的WinFTM®App。
FISCHERSCOPE XUL 210, XUL 220和XULM 240仪器符合DIN ISO 3497和ASTM B 568。它们是完全受保护的仪器,根据德国法规“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”进行型式认证。

XUL210/220参数

通用规格

设计用途

能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪(EDXRF),

用于无损测量镀层厚度及分析材料成分

可测量元素范围

多时可同时测定从氯(17)到铀(92)中的24中元素

(使用选配的WinFTM®BASICApp时)

形式设计

台式仪器,测量门向上开启

测量方向

由上往下

X射线源

X射线管

热稳定钨靶射线管

高压

三档:30KV、40KV、50KV

孔径(准直器)

φ0.3mm;可选长方形0.3x0.05mm

基本滤片

固定

测量点尺寸

取决于测量距离和孔径大小,实际的量点大小与视频

窗口中显示的一致,较小测量点大小:约为φ0.51mm

X射线探测

X射线探测器

比例接收器

测量距离

0...25mm,使用受专有保护的DCM测量距离补偿法

样品定位

样品放置

手动

视频系统

高分辨率CCD彩色摄像头,可沿着初级X射线

光束方向,手动聚焦,对被测位置进行监控

十字线(带有经过校准的刻度和测量点尺寸)

可调节亮度的LED照明

图像放大倍率

40x~160x

计算单元

计算机

Windows®PC

App

标准:FISCHER WinFTM®LIGHT

可选:FISCHER WinFTM®BASIC,PDM®,SUPER

工作台

形式设计

手动XY轴工作台

样品放置可用区域

310x320mm

X/Y轴工作台移动范围

30x40mm

样品很大重量

2KG

样品很高高度

174mm

电气参数

电源要求

交流220V,50HZ

功耗

很大120W(不包括计算机)

保护等级

IP40

尺寸规格

外部尺寸(宽x深x高)

403x588x444mm

重量

大约45KG

环境要求

使用时温度

10℃~40℃

存储或运输时温度

0℃~50℃

空气相对湿度

≤95%,无结露

实行标准

CE合格标准

EN 61010

X射线标准

DIN ISO 3497和ASTM B 568

形式标准

作为受完全保护的仪器,

符合德国"Deutsche Rontgenverordnung-RoV"法规的规定

FISCHERSCOPE X-RAY XUL 220是一款性能好、设计紧凑、应用广泛的X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。常用于无损测量细小工件.上的镀层厚度和材料分析。特别适合在质量管控、来料检验及生产过程控制中测量使用。
比例接收器能实现高计数率,这样就可以进行高精度测量。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY仪器一样,本款仪器有着不凡的准确性以及长期的稳定性,这样就显著减少了校准仪器所需的时间和精力。
依靠FISCHER的完全基本参数法,可以在没有校验标准片校正的情况下分析固、液态样品的成分及测量样品的镀层厚度。
深圳银飞电子有售XUL 210/220,文章来源于德国菲希尔

 

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