TH2638B电容测试仪

TH2638B电容测试仪 是一款新型的精密电容 测试仪器 ,设计精致小巧,外观精美,便于携带,可以放置在任何地方对电容进行检测。测试精度为0.07%,损耗为0.0005,测试频率高达1MHz,配置有4.3英寸液晶屏,操作系统用户需求选择中文或者英文的操作界面。操作简单,为陶瓷电容器生产提供快速可靠的测试,可以测试各种电容的各种值,从低值到高值都可以测量,测试的结果非常稳定和准确,即使需要测试的值很低,也是没有问题的。TH2638B仪器配置有RS23......

产品描述

TH2638B电容测试仪是一款新型的精密电容测试仪器,设计精致小巧,外观精美,便于携带,可以放置在任何地方对电容进行检测。测试精度为±0.07%,损耗为0.0005,测试频率高达1MHz,配置有4.3英寸液晶屏,操作系统用户需求选择中文或者英文的操作界面。操作简单,为陶瓷电容器生产提供快速可靠的测试,可以测试各种电容的各种值,从低值到高值都可以测量,测试的结果非常稳定和准确,即使需要测试的值很低,也是没有问题的。TH2638B仪器配置有RS232C、USB CDC、LAN、处理器、GPIB接口,用户可以根据需求选配适合的通信接口。
TH2638B

TH2638B电容测试仪使用说明书

4.3英寸TFT液晶显示屏
可选中英文操作界面
较大测试频率:1MHz
高达测试速度:2.3ms/次
基本测试精度:±0.07%
损耗系数:±0.0005
V,I测试信号电平监视器功能
低阻抗测量,信号电平补偿功能
内置11-bin比较器
内部文件存储和外部U盘文件存储
测试数据可以直接保存在U盘中
屏幕截图可以保存在U盘中
与SCPI命令兼容
RS232C、USB CDC、LAN、处理器、GPIB接口
操纵器接口和扫描仪接口
触点检查功能
同步信号源
1MHz测试频率下的偏移功能(±1,±2%)
TH2638电容测试仪

TH2638电容测试仪操作说明书

产品型号 TH2638 TH2638A TH2638B TH2638C
显示 4.3 TFT LCD显示器480×272
基本测量准确度 容量C: 0.07%,损耗D:±0.0005
 
测试频率
100Hz,120Hz,1kHz,
10kHz,100kHz,1MHz,
1MHz±1%,1MHz±2%
100Hz,120Hz, 1kHz,10kHz, 40kHz,100kHz  
100Hz,120Hz, 1kHz,10kHz
 
100Hz, 120Hz, 1kHz
AC信号电平 0.1V - 1V, 分辨率0.001V
信号源输出阻抗 0.3Ω、1.5Ω、10Ω根据阻抗自动调整
测试参数 Cp-D, Cp-Q, Cp-Rp, Cp-G, Cs-D, Cs-Q, Cs-Rs Cp-D, Cp-Q, Cp-Rp, Cp-G,
Cs-D, Cs-Q, Cs-Rs, Cs-Rs-Ls
Cp-D, Cp-Q, Cp-Rp, Cp-G, Cs-D, Cs-Q, Cs-Rs
测试速度 (ms) 2.3ms,2.5ms,3ms, 3.3ms,10ms 2.3ms,10ms,40ms,55ms,75ms
 
测试电容量程分布
1pF, 2.2pF, 4.7pF, 10pF, 22pF, 47pF, 100 pF, 220 pF, 470 pF, 1 nF , 2.2 nF,
4.7 nF, 10 nF, 22 nF, 47 nF, 100 nF, 220 nF, 470 nF, 1μF, 2.2μF, 4.7μF,
10μF, 22μF, 47μF,100μF, 220μF, 470μF, 1 mF
列表扫描 10点,扫描参数: 测试频率、AC电压
通用功能 串、并联等效模式,测试电缆长度:0、1m,平均:1-255次,校准:开路、短路、负载,ALC功能, 量程选择:自动、手动,触发模式:INT、MAN、EXT、BUS,触发延时:0-999s,键盘锁定功能
独有功能 接触检查功能,同步信号源功能,频率偏移功能(TH2638)、Cs-Rs-Ls(TH2638A)低输出阻抗, 电平补偿功能,一键截屏功能、一键记录功能
比较器 11档分选, PASS/FAIL指示,档计数功能
存储 40组仪器内置测试设定文件                 USB存储器:40设定文件、GIF图像、CSV数据文件
接口 RS232C,LAN,USB CDC, HANDLER,GPIB,SCANER RS232C,LAN,USB CDC,HANDLER

TH2638B电容测试仪标准配置

TH2638B主机一台
四端带卡夹具
短路片
带盒四端绝缘带锁Kelvin测试线
TH2638B电容测试仪兼容SCPI命令集,配置机械手和扫描仪接口,扫描仪接口可以扫描每个通道的开路/短路/负载误差校准,最多256个通道。在低频时有信号电平补偿功能。当阻抗很小时,信号源和测试电缆的内阻会导致被测设备终端电压低于设定范围,则该功能将电平调整到设定范围。有额外的接触不良检测功能,尤其是生产线,可以通过测试仪检测DUT之间的接触不良,不需要额外的时间来进行这项操作。保持与真实测试相同的信号源功能 ,有真实测试的地方,测试信号可以在被测件中产生,连接和断开被测件时没有任何测试信号 ,从而减少对被测件的损坏 。当接触不良有大电流时,夹具或测试点需要确认。测试频率为1MHz时,可设置测试频率 Rel(偏移值为±1%、±2%)。在阵列电容测试中, 此功能可以消除相邻端子之间的噪声,并减少测试结果的差异。有带测试仪的进料箱 ,用户可以根据CD/Q/R/ Q的结果设置9个箱子,找出合格和不合格的产品,然后放入不同的箱子。
文章来源于TongHui 同惠
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